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dient als eines der einfachsten und kostengünstigsten Verfahren der Angewandten Geophysik zur Messung des Eigenpotentials im Untergrund. Zur Messung des Spannungsabfalls benutzt man nicht polarisierbare Sonden, z.B. Kupfer-Kupfersulfatsonden (Cu/CuSO4), die mit einem hochohmigen Voltmeter verbunden werden. Dabei bedient man sich entweder der Technik der Wandersonde oder der Leap-Frog-Methode. Eine gleichzeitige und flächenhafte Vermessung wird mit Sondenarrays ermöglicht. Die Wiederholungsgenauigkeit von Eigenpotentialmessungen (SP-Log) liegt bei einigen mV, allerdings können tellurische und vagabundierende Ströme technischen Ursprungs sowie bioelektrische Potentiale die Reproduzierbarkeit stark reduzieren. Aufgrund der auftretenden Strömungspotentiale besteht auch eine gewisse Topographieabhängigkeit. Die Aussagetiefen des SP-Verfahrens liegen bei einigen 10er Metern. Es wird zur Exploration von sulfidischen Erzen und Graphitvorkommen, aber auch zur Altlasten- und Deponieerkundung eingesetzt (Abb. 1).
Häufig werden die gemessenen Eigenpotentialwerte lediglich in eine Isanomalenkarte eingetragen, um normale und anomale Bereiche voneinander abzugrenzen. Eine einfache Modelliermöglichkeit einer gemessenen SP-Anomalie bei der Prospektion von elektronischen Leitern besteht in der Annahme eines an den Enden mit gegensätzlichen Ladungen ±Q besetzten polarisierten Stabes (Dipols), dessen Potential sich zu
 berechnet; r1 und r2 sind die Abstände der Stabenden zum Aufpunkt P an der Oberfläche (Abb. 2). Mit a = Lcosα (L =Dipollänge, α = Neigungswinkel) folgt:
 z1 und z2 sind die Tiefen der Endpunkte des Dipols; x ist die horizontale Koordinate. Realistischere Modelle berücksichtigen jedoch die Redoxpotentiale selbst und die Verteilung der elektrischen Umgebungsleitfähigkeit. HBr
 Eigenpotential-Verfahren 1: Kartierung einer Eigenpotential-Anomalie nahe der Fränkischen Linie (gestrichelt) in der Oberpfalz.
 Eigenpotential-Verfahren 2: Modellvorstellung zur Erklärung von Eigenpotentialanomalien durch einen polarisierten Stab (r1, r2 = Abstände der Stabenden zum Aufpunkt (P) an der Oberfläche, L = Dipollänge, α = Neigungswinkel, z1, z2 = Tiefen der Endpunkte des Dipols, 0 = Nullpunkt auf der x-Achse). |
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